适用于8"/12"及以下晶圆、MPW晶圆、单芯片的手动探针测试

可应用于I-V/C-V测试、1/f噪声测试、射频/毫米波测试、功率测试、Load-Pull测试等

微孔真空吸附卡盘，可更好地兼容薄晶圆固定

高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统，可清晰观察扎针情况，提高扎针的准确性

载物台单手快速移动及升降，使操作流程更加简洁

卡盘可完全拉出台面，方便进行晶圆取放

针座平台两段式快速分离

支持探针卡安装

显微镜支持多种选配

可选配~200℃/300℃高温卡盘扩展高温测试应用