全自动单芯片探针台
副标题
全自动单芯片探针台适用于单芯片、载片、异构芯片等产品的常温/常高温自动探针测试，支持QFN、BGA等无引线封装器件的自动探针测试。
半自动高低温晶圆探针台
· 适用于8"/12"及以下晶圆、MPW晶圆、单芯片在高低温环境下的自动探针测试
· -60°C~200℃/300℃高低温系统，为芯片提供稳定的高低温测试环境
· 三同轴屏蔽腔与低漏电卡盘设计，全温环境漏电可达到fA级
· 可升级3000V大功率Chuck盘，实现功率器件测试
· 可扩展VAP自动对针系统
· 可扩展电动探针座，实现多通道产品测试时通道间的自动切换
测试服务
配备万级洁净间，结合晶圆探针台、单芯片探针台、高低温测试分选机、仪器仪表及自动化测试软件系统，为客户提供样品验证、小批量/批量测试分选服务，可以帮助客户解决多种业务模式下的测试资源配置和交付问题。