适用于4"/6"及以下晶圆和单芯片的手动探针测试

可应用于I-V/C-V测试、射频测试、光电测试等

采用模块化设计，可根据测试要求选配多种模块

可搭配单芯片卡盘，一次性放置多片芯片进行测试

搭配CCD显微镜，可直观观察扎针情况

设备外形小巧，操作方便，性价比高

可放置于屏蔽箱内使用

适合于教学、实验室场景